霉菌試驗箱簡介
點擊次數(shù)：3237 更新時間：2011-01-26
霉菌試驗箱簡介
概 述
真菌在土壤中及各種材料上生長，產(chǎn)生孢子而傳播。孢子脫離母體發(fā)芽而進一步生長，因此孢子極小，容易隨流動的空氣傳播，一旦生長環(huán)境條件適宜，即形成為污染，對設備的性能產(chǎn)生影響。溫度和濕度是霉菌生長的基本條件，而水分是孢子發(fā)芽的必要條件，物體表面上存在有灰塵或其他親水性物質(zhì)，可以從大氣中吸收足夠的水分和營養(yǎng)，以供孢子發(fā)芽生長。大量試驗證明，造成設備損壞的大多數(shù)霉菌，發(fā)芽zui適宜溫度在20℃—30℃之間，相對濕度低于65%時，孢子就不會發(fā)芽生長；大于此值時，濕度越大，生長越快。長霉對產(chǎn)品的影響主要有以下三個方面：原發(fā)性影響：霉菌即使對材料只發(fā)生輕微的損害，絕緣材料表面由于濕潤的菌絲層形成導電通路而大幅度降低絕緣電阻，嚴重地會引起電路頻率和阻抗特性發(fā)生重大的變化。材料一旦受到霉菌侵蝕會導致機械強度下降和其他物理性能的變化。繼發(fā)性影響：霉菌在材料上生長，能夠產(chǎn)生有機酸和其他電解質(zhì)等代謝產(chǎn)物，而對材料產(chǎn)生繼發(fā)性影響。這種侵蝕會導致材料電解和老化。又因菌絲體具有吸水作用，形成了飽和的海綿層，即使外界濕度很低，菌絲體仍能在試驗體內(nèi)維持高濕狀態(tài)，導致元件受潮損壞。長霉即有損新產(chǎn)品外觀，又伴有難聞的霉味。關(guān)聯(lián)性影響：由于現(xiàn)代化設備的微型結(jié)構(gòu)和相互聯(lián)結(jié)，設備的一處長霉可能會對不允許長霉的其他元件和微型件產(chǎn)生影響。因此，當考慮對單一分組件或元件的直接或間接影響時，必須對整機性能可能產(chǎn)生的影響給予評定。長霉試驗通常限于檢驗是否用了適當?shù)脑筒牧?。通過材料元件、零部件或小的組合件等試驗，很容易正確地獲得所需要的許多重要數(shù)據(jù)；
長霉試驗是對試驗新產(chǎn)品準備運行非常有利霉菌生長條件下所作的zui后檢測。通過試驗可以檢測出具有良好設計性能的產(chǎn)品發(fā)生任何故障的性質(zhì)。綜上所述，長霉（霉菌）試驗是鑒定樣品及其材料在有利于霉菌生長的氣候條件下的長霉程度和由于長霉引起的表面變化和性能影響。交變霉菌試驗箱是讓試驗樣品在一個理想的，適宜霉菌孢子快速生長的氣候環(huán)境中，人為考核試驗樣品及其結(jié)構(gòu)材料的抗霉性能，及長霉對試驗樣品電氣、機械性能影響的試驗設備。
公司按照《GB10588—89；長霉試驗箱的技術(shù)條件》及其它相關(guān)環(huán)試標準中的要求（例如：試驗方法中規(guī)定的有關(guān)試驗箱*的技術(shù)條件等），結(jié)合自身的技術(shù)特點、設計制造的夾套式“交變霉菌試驗箱”符合上述標準的規(guī)定，達到國標及國軍標的要求，能夠按照《電工電子產(chǎn)品方法：GB2423.16—90試驗J—長霉試驗方法》和《GJB150.10—86，軍用設備霉菌試驗》、《GJB4.10-83艦船電子設備環(huán)境試驗霉菌試驗》進行長霉試驗。
執(zhí)行標準：
1. GB2423.16—90試驗J—長霉試驗方法
2. GJB150.10—86，軍用設備霉菌試驗
3. GJB4.10-83艦船電子設備環(huán)境試驗霉菌試驗
4. GB—2002長霉試驗 GB2002濕熱試驗
